REGe能譜儀簡(jiǎn)介：
•REGe反極性同軸鍺探測(cè)器在幾何上類(lèi)似于其它同軸鍺探測(cè)器，只有一個(gè)重要的差別：反極性探測(cè)器的電極和通常的同軸探測(cè)器相反，即 p 型電極（離子注入硼）在外面，n 型觸點(diǎn)（擴(kuò)散的鋰） 在內(nèi)部。這樣安排電極有兩個(gè)優(yōu)點(diǎn)：窗口厚度和抗射線(xiàn)破壞。
•離子注入的外觸點(diǎn)比鋰擴(kuò)散的內(nèi)觸點(diǎn)薄得多（0.3 微米），再加上復(fù)合炭低溫恒溫室窗口也較薄，使響應(yīng)范圍向下擴(kuò)展到 3 keV、探測(cè)器的動(dòng)態(tài)范圍達(dá)到 2000:1
•這一動(dòng)態(tài)范圍超過(guò)大多數(shù)分析系統(tǒng)提供的 100:1，因此REGe反極性同軸鍺探測(cè)器不太可能立即覆蓋 5 keV 到 10 MeV 范圍
•REGe反極性同軸鍺探測(cè)器可以提供鈹窗和鋁窗。



REGe能譜儀特性：
•REGe反極性同軸鍺探測(cè)器適合于能量在 3 keV 到>10MeV 的譜學(xué)應(yīng)用
•超薄離子注入觸點(diǎn)
•抗射線(xiàn)破壞
•很好的時(shí)間分辨率
•高能量速率能力
•二極管 FET 保護(hù)
•回溫/HV 切斷
•高速率指示


REGe反極性同軸鍺探測(cè)器的抗射線(xiàn)破壞的屬性來(lái)自如下原因。人們發(fā)現(xiàn)射線(xiàn)破壞主要來(lái)自中子或帶電粒子在鍺中引起俘獲空洞。反極性探測(cè)器與通常的同軸探測(cè)器不同，空洞是由反極性探測(cè)器外電極收集。由于大部分探測(cè)器活性體積落在外觸點(diǎn)給定距離?R內(nèi)，比內(nèi)觸點(diǎn)多得多 (體積≈R2)，因此空洞被吸引到外觸點(diǎn)運(yùn)動(dòng)的平均距離比被吸引到內(nèi)觸點(diǎn)小。由于運(yùn)動(dòng)距離短，它們被射線(xiàn)破壞材料俘獲的可能性*小。當(dāng)然，抗射線(xiàn)破壞能力提高程度還依賴(lài)于其他因素，但實(shí)驗(yàn)證據(jù)說(shuō)明：反極性探測(cè)器抗射線(xiàn)破壞的能力是通常同軸鍺探測(cè)器的 10 倍。


REGe反極性同軸鍺探測(cè)器規(guī)格和信息
REGe反極性同軸鍺探測(cè)器的標(biāo)準(zhǔn)配置包括：
•垂直細(xì)線(xiàn)條帶的低溫恒溫器，帶 Be 窗口和 30立升杜瓦
•Model 2002C 前置放大器，3 米偏移、高壓禁止、信號(hào)和電源電纜


對(duì)于可提供的選購(gòu)件和配置的所有信息參閱溫“ 恒溫器、制冷器和選購(gòu)件”REGe 探測(cè)器保證給出一個(gè)22 到 88 keV 強(qiáng)度比大于20:1。


如果需要相對(duì)效率大于 70% 的探測(cè)器，請(qǐng)咨詢(xún)工廠。

*注；由于晶體大小的變化，頂帽直徑也許更大。為了保證頂帽直徑或提供定制的規(guī)格和硬件定制化，請(qǐng)咨詢(xún)工廠。上面的規(guī)格與 IEEE Std 325-1996 一致。分辨率性能使用 Lynx* 數(shù)字 MCA 測(cè)試。對(duì)使用其它 CANBERRA 數(shù)字 l MCA 的性能保證，請(qǐng)咨詢(xún)工廠。